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- 题名/责任者:
- 超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统/[美]布什内尔等著 蒋安平等译
- 版本说明:
- 1
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005.8
- ISBN及定价:
- 7-121-01490-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 511页;26cm
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- [美]布什内尔等著
- 中图法分类号:
- TN470.7
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN470.7/1 | S490255 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN470.7/1 | S490256 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN470.7/1 | S490257 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN470.7/1 | S490258 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN470.7/1 | S490259 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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