| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:6

题名/责任者:
仪器与系统可靠性/康瑞清编著
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2013.1
ISBN及定价:
978-7-111-40012-7/CNY26.00
载体形态项:
140页:图;26cm
个人责任者:
康瑞清 编著
学科主题:
虚拟仪表-软件工具-程序设计
中图法分类号:
TH86
中图法分类号:
TP311.56
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书主要论述了与电子系统相关的可靠性设计基础, 可靠性建模、预计与分配方法, 电子仪器中常用电路的故障树分析方法, 故障模式影响及危害性分析方法, 以及可靠性试验方法, 着重对电子系统的可靠性设计方法进行了阐述。本书是作者在总结多年教学经验的基础上撰写而成的。书中强调了基本理论的系统性与工程实用性的结合, 突出理论联系实际的内容, 并提出了一些实际的电子系统可靠性案例。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TH86/7 S2189861   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TH86/7 S2189862   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TH86/7 S2189863   总馆—自然书库(凤阳)     可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
-->
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架