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题名/责任者:

单片射频微波集成电路技术与设计/(英) Ian Robertson, Stepan Lucyszyn编著 文光俊, 谢甫珍, 李家胤译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-121-03830-3/CNY56.00

载体形态项:

14, 420页:图;26cm

并列正题名:

RFIC and MMIC design and technology

丛编项:

国外电子与通信教材系列

个人责任者:

罗伯逊, I. (Robertson, Ian) 编著

个人责任者:

卢西申, S. (Lucyszyn, Stepan) 编著

个人次要责任者:

文光俊 译

个人次要责任者:

谢甫珍 译

个人次要责任者:

李家胤 译

学科主题:

单片电路-射频电路-微波电路-集成电路-教材

中图法分类号:

TN4

出版发行附注:

本书中文简体版专有出版权由The IEE授权

责任者附注:

CIP数据题责任者Robertson汉译姓: 罗伯逊; 编目员自译责任者Lucyszyn汉译姓: 卢西申

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书介绍单片射频微波集成电路技术与设计方法。在详细地介绍了单片射频微波集成电路的制造工艺、可用的无源和有源器件结构与模型、设计与仿真方法、测试技术、应用与发展趋势的基础上，全面阐述了各种单元基础电路与集成系统的设计方法及新技术。全书共12章。前4章介绍了单片射频微波集成电路使用的硅和化学元素周期表中的第III族至第IV族化合物半导体工艺技术与特点、集总式和分布式无源器件、双极型和场效应晶体管、电路和电磁场设计工具与仿真技术，第5章至第11章分别介绍了单片放大器、振荡器、混频器、开关和衰减器、集成天线和收发机的设计方法及最新成果，第12章介绍了单片射频微波集成电路的测试技术。

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