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题名/责任者:

电子学系统辐射效应与加固技术/许献国, 曾超著

出版发行项:

哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023.5

ISBN及定价:

978-7-5767-0540-9 精装/CNY128.00

载体形态项:

390页:图 (部分彩图);25cm

并列正题名:

Radiation effects and hardening techniques of electronic systems

丛编项:

材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

个人责任者:

许献国 著

个人责任者:

曾超 著

学科主题:

电子器件-辐射效应-研究

中图法分类号:

TN6

一般附注:

国家出版基金资助项目 国家出版基金项目

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书从辐射损伤机理和抗辐射加固实践出发, 系统全面地介绍了中子、光子、带电粒子等与电子学系统的金属、半导体、绝缘材料的相互作用, 半导体敏感结构辐射感生缺陷的空间和时间多尺度演化机制, 半导体器件、集成电路的辐射效应规律, 电子学系统的辐射屏蔽、元器件筛选、器件工艺加固、电路设计加固以及系统总体加固技术, 辐射效应多尺度、多物理高确信建模和仿真方法, 系统的抗辐射加固裕度和不确定的量化评估先进方法等。

使用对象附注:

本书适用于辐射效应研究人员

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