MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 光学合成孔径成像的共相位误差检测方法/赵伟瑞著
- 出版发行项:
- 北京:北京理工大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-5763-0848-8/CNY88.00
- 载体形态项:
- 306页:图;24cm
- 个人责任者:
- 赵伟瑞 著
- 学科主题:
- 雷达成像
- 中图法分类号:
- TN957.52
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了合成孔径成像技术的发展现状和基本原理，对其中的关键技术--共相位误差检测方法进行了研究和阐述，其中包含基于经典光学原理的检测方法、近几年研究的空域到频域转换法、以及新兴的基于深度学习的检测方法等，对各种方法的理论依据、原理、数学模型的建立、误差影响因素等进行了详细阐述，并给出了相应的实验验证系统及分析。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN957.52/8 | S3516140 | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 | 工业技术书库（龙湖） | |
| TN957.52/8 | S3516141 | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 | 工业技术书库（龙湖） |
显示全部馆藏信息