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题名/责任者:

纳米器件空间辐射效应/陈伟 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2024.6

ISBN及定价:

978-7-03-078610-4/CNY198.00

载体形态项:

280页:图;24cm

丛编项:

辐射环境模拟与效应丛书/主编陈伟

个人责任者:

陈伟 著

个人责任者:

罗尹虹 著

个人责任者:

刘杰 著

学科主题:

纳米材料-电子器件-辐射效应

中图法分类号:

TN103

中图法分类号:

TL7

题名责任附注:

题名页题: 陈伟, 罗尹虹, 刘杰, 马晓华, 赵元富等著

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书主要介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。

使用对象附注:

本书可为从事电子器件和系统抗辐射加固设计的技术人员, 以及抗辐射电子学和辐射物理研究领域相关人员提供参考

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