MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3
- 题名/责任者:
- 纳米器件空间辐射效应/陈伟 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2024.6
- ISBN及定价:
- 978-7-03-078610-4/CNY198.00
- 载体形态项:
- 280页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书/主编陈伟
- 个人责任者:
- 陈伟 著
- 个人责任者:
- 罗尹虹 著
- 个人责任者:
- 刘杰 著
- 学科主题:
- 纳米材料-电子器件-辐射效应
- 中图法分类号:
- TN103
- 中图法分类号:
- TL7
- 题名责任附注:
- 题名页题: 陈伟, 罗尹虹, 刘杰, 马晓华, 赵元富等著
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。
- 使用对象附注:
- 本书可为从事电子器件和系统抗辐射加固设计的技术人员, 以及抗辐射电子学和辐射物理研究领域相关人员提供参考
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN103/17 | S4015835 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 | |
TN103/17 | S4021894 | 总馆—采编室 | 在编 | 采编室 |
显示全部馆藏信息