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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
纳米器件空间辐射效应/陈伟 ... [等] 著
出版发行项:
北京:科学出版社,2024.6
ISBN及定价:
978-7-03-078610-4/CNY198.00
载体形态项:
280页:图;24cm
丛编项:
辐射环境模拟与效应丛书/主编陈伟
个人责任者:
陈伟
个人责任者:
罗尹虹
个人责任者:
刘杰
学科主题:
纳米材料-电子器件-辐射效应
中图法分类号:
TN103
中图法分类号:
TL7
题名责任附注:
题名页题: 陈伟, 罗尹虹, 刘杰, 马晓华, 赵元富等著
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书主要介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。
使用对象附注:
本书可为从事电子器件和系统抗辐射加固设计的技术人员, 以及抗辐射电子学和辐射物理研究领域相关人员提供参考
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN103/17 S4015835   总馆—滁州校区自然书库     可借 滁州校区自然书库
TN103/17 S4021894   总馆—采编室     在编 采编室
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