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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:8

题名/责任者:
几何量公差与检测:互换性与测量技术基础教材/甘永立主编
版本说明:
第10版
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-5478-2005-6/CNY29.00
载体形态项:
286页:图;26cm
其它题名:
互换性与测量技术基础教材
个人责任者:
甘永立 主编
学科主题:
机械元件-互换性-高等学校-教材
学科主题:
机械元件-测量-高等学校-教材
中图法分类号:
TG801-43
中图法分类号:
TG801
一般附注:
本书获得第二届全国高等学校机电类专业优秀教材二等奖
版本附注:
本书1985年6月第1版, 1989年4月第2版, 1993年5月第3版, 1997年8月第4版, 2001年4月第5版, 2004年7月第6版, 2005年7月第7版, 2008年1月第8版, 2010年1月第9版
书目附注:
有书目 (第285-286页)
提要文摘附注:
本书采用我国新的和最近发布的公差与检测方面的国标。在第九版的基础上,重新编写第十一章,修订其余各章,改进若干插图。本书内容符合几何量公差与检测课程教学基本要求。全书共分绪论,几何量测量基础,孔、轴公差与配合,几何公差与几何误差检测,表面粗糙度轮廓及其检测等。
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