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题名/责任者:

互换性与测量技术基础/主编陈于萍, 周兆元

版本说明:

第2版

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2006

ISBN及定价:

7-111-05924-7/CNY23.00

载体形态项:

229页:图;26cm

个人责任者:

陈于萍 主编

个人责任者:

周兆元 主编

学科主题:

互换性-理论-高等学校-教材

学科主题:

机械-测量-高等学校-教材

中图法分类号:

TG8

一般附注:

普通高等专科教育机电类规划教材

著录信息附注:

据2006年1月第2次印刷著录

书目附注:

有书目 (第229页)

提要文摘附注:

本书内容包括绪论、测量技术基础、尺寸的公差配合与检测、形位公差与检测、表面粗糙度的检测、圆锥和角度公差的检测、尺寸链基础、光滑极限量规设计、常用结合件的公差与检测等。

使用对象附注:

高等专科学校、成人高校、高等职业学校、电视大学等学校机械类各专业的师生，有关工程技术人员

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