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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:21

题名/责任者:
CMOS digital integrated circuits:analysis and design/(美) 康松默(Sung-Mo Kang), 莱布莱比吉(Yusuf Leblebici), 金(Chulwoo Kim)著
版本说明:
英文版
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2015
ISBN及定价:
978-7-121-24804-7/CNY99.00
载体形态项:
24, 714页, 8页图版:图 (部分彩图);24cm
并列正题名:
CMOS数字集成电路:分析与设计
丛编项:
国外电子与通信教材系列
个人责任者:
(美) 康松默 (Kang, Sung-Mo) 著
个人责任者:
(美) 莱布莱比吉 (Leblebici, Yusuf) 著
个人责任者:
(美) (Kim, Chulwoo) 著
学科主题:
CMOS电路-电路分析-教材
学科主题:
CMOS电路-电路设计-教材
学科主题:
CMOS电路
学科主题:
电路分析
中图法分类号:
TN432.02
版本附注:
译自原书第4版
出版发行附注:
本授权双语版由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和电了工业出版社合作出版
责任者附注:
责任者Sung-Mo Kang规范汉译姓名: 康松默; 责任者Leblebici规范汉译姓: 莱布莱比吉; 责任者Kim规范汉译姓: 金
书目附注:
有书目 (第685-690页) 和索引
提要文摘附注:
全书共15章。第1章至第8章详细讨论MOS晶体管的相关特性和工作原 理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理; 第9章至第13章主要介绍应用于 先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路、先进的半导体存储电路、低功耗CMOS逻辑电路、数字运算和转换电路、 芯片的I/O设计; 第14章和第15章分别讨论电路的产品化设计和可测试性设计这两个重要问题。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TN432.02/7 S2433423   总馆—自然书库(凤阳)     可借
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