MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：35
- 题名/责任者:
- 电子元器件检验技术.试验部分/工业和信息化部电子第五研究所组编 王晓晗, 罗宏伟编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-121-33484-9/CNY98.00
- 载体形态项:
- XI, 369页:图;26cm
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 王晓晗 编著
- 个人责任者:
- 罗宏伟 编著
- 团体次要责任者:
- 工业和信息化部电子第五研究所组 编
- 学科主题:
- 电子元器件-测试技术
- 中图法分类号:
- TN606
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，以及不同类别电子元器件的检验技术等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN606/19 | S3294449 | - | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 |
| TN606/19 | S3294450 | - | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 |
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