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题名/责任者:

材料的透射电子显微学与衍射学/(美) 布伦特·福尔兹, 詹姆斯·豪著 吴自勤 ... [等] 译

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2017.01

ISBN及定价:

978-7-312-03749-8/CNY99.00

载体形态项:

xi, 57页:图;24cm

统一题名:

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

丛编项:

物理学名家名作译丛

个人责任者:

福尔兹 (Fultz, Brent) 著

个人责任者:

豪 (Howe, James) 著

个人次要责任者:

吴自勤 译

学科主题:

工程材料-透射电子显微术

学科主题:

工程材料-X射线衍射

中图法分类号:

TB302

一般附注:

“十三五”国家重点图书出版规划项目

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜 (TEM) 和X-射线衍射 (XRD) 。与第三版相比, 这一版所有章节都进行了更新和修订, 并增加了与TEM有关的重要的新技术, 如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理, 以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别, 并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。

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