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题名/责任者:

纳米材料的X射线分析/程国峰, 杨传铮编著

版本说明:

第2版

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2019.06

ISBN及定价:

978-7-122-33416-9/CNY88.00

载体形态项:

351页:图;24cm

并列正题名:

X-Ray analysis of nano materials

个人责任者:

程国峰 编著

个人责任者:

杨传铮 编著

学科主题:

纳米材料-X射线-分析

中图法分类号:

TB383

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构, 特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性, 本书分为三个部分: 晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分; 中间部分是X射线衍射分析方法和应用, 包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等; 最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。

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