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题名/责任者:

半导体材料与器件表征/(美) 迪特尔·K·施罗德著 徐友龙 ... [等] 译

出版发行项:

西安:西安交通大学出版社,2017.12

ISBN及定价:

978-7-5693-0218-9/CNY128.00

载体形态项:

10, 714页:图;26cm

统一题名:

Semiconductor material and device characterization

丛编项:

国外名校最新教材精选

个人责任者:

施罗德 (Schroder, Dieter K.) 著

个人次要责任者:

徐友龙 译

学科主题:

半导体材料-研究

学科主题:

半导体器件-研究

中图法分类号:

TN304

中图法分类号:

TN303

版本附注:

据原书第3版译出

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书分十二章, 内容包括: 电阻率 ; 载流子与掺杂浓度 ; 接触电阻和肖特基势垒 ; 串联电阻, 沟道长度与宽度, 阈值电压 ; 缺陷 ; 栅氧电荷、界面陷阱电荷和栅氧厚度 ; 载流子寿命 ; 迁移率 ; 基于电荷和探针的表征技术等。

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