- 题名/责任者:
- 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析/武晔卿编著
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2012.7
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-0822-7/CNY36.00
- 载体形态项:
- 247页:图;24cm
- 个人责任者:
- 武晔卿 编著
- 学科主题:
- 微型计算机-系统设计-案例-分析
- 中图法分类号:
- TP360.21
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了嵌入式系统设计中, 哪些地方最可能带来可靠性隐患, 以及从设计上如何进行预防。内容包括: 启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法; 降额参数和降额因子的选择方法; 风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范; PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施; 电子产品制造过程中的失效因素 (包括EOS、ESD、MSD等) 及预防、检验方法; 可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。同时, 针对相关内容进行实际的案例分析, 以使读者更好地掌握这些知识。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
TP360.21/29 | S2098847 | 总馆—自然书库(凤阳) | 可借 | |
TP360.21/29 | S2098848 | 总馆—自然书库(凤阳) | 可借 | |
TP360.21/29 | S2098849 | 总馆—自然书库(凤阳) | 可借 |
显示全部馆藏信息