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首记录 上一条 1 / 2 下一条 尾记录 MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:22

题名/责任者:
嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析/武晔卿编著
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2012.7
ISBN及定价:
978-7-5124-0822-7/CNY36.00
载体形态项:
247页:图;24cm
个人责任者:
武晔卿 编著
学科主题:
微型计算机-系统设计-案例-分析
中图法分类号:
TP360.21
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书介绍了嵌入式系统设计中, 哪些地方最可能带来可靠性隐患, 以及从设计上如何进行预防。内容包括: 启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法; 降额参数和降额因子的选择方法; 风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范; PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施; 电子产品制造过程中的失效因素 (包括EOS、ESD、MSD等) 及预防、检验方法; 可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。同时, 针对相关内容进行实际的案例分析, 以使读者更好地掌握这些知识。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TP360.21/29 S2098847   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TP360.21/29 S2098848   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TP360.21/29 S2098849   总馆—自然书库(凤阳)     可借
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