MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：17
- 题名/责任者:
- 芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界/刘斌著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-121-33901-1/CNY99.00
- 载体形态项:
- XXII, 538页:图;26cm
- 并列正题名:
- WalKing guide to SoC verification:the panorama of verification from system to UVM
- 个人责任者:
- 刘斌 著
- 学科主题:
- 芯片-验证
- 中图法分类号:
- TN407
- 相关题名附注:
- 封面题英文并列题名：A walKing guide to SoC verification: the panorama of verification from system to UVM
- 书目附注:
- 有书目 (第537-538页)
- 提要文摘附注:
- 本书针对芯片验证领域不同级别的验证工程师，给出由浅入深的技术指南：学习验证理论来认识验证流程和标准，学习SystemVerilog语言和UVM方法学来掌握目前主流的动态验证技术，了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN407/4 | S3234140 | - | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 |
| TN407/4 | S3274203 | - | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 |
| TN407/4 | S3274204 | - | 总馆—工业技术书库（龙湖） | 可借 |
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