MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures/(意)兰伯蒂(Carlo Lamberti)
- 版本说明:
- 英文影印版
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-026969-0 精装/CNY135.00
- 载体形态项:
- 486页:图;25cm
- 并列正题名:
- = 半导体异质结构与纳米结构表征
- 丛编项:
- 科爱传播:导读版.化学化工.纳米科学进展系列
- 个人责任者:
- (意) 兰伯蒂 (Lamberti, Carlo) 著
- 学科主题:
- 半导体材料-异质结-英文
- 学科主题:
- 半导体材料-纳米材料-结构-英文
- 学科主题:
- 半导体材料
- 学科主题:
- 异质结
- 中图法分类号:
- TN304
- 出版发行附注:
- 本书英文影印版由Elsevier (Singapore) Pte Ltd.授权科学出版社在中国大陆境内独家发行
- 责任者附注:
- 责任者Lamberti规范汉译姓: 兰伯蒂
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书主要讨论了用于确定半导体量子阱和超晶格结构性质 (结构、物理, 化学、电气等) 的专门表征技术。此外, 介绍了采用第一原理进行的模拟、建模方法, 以及异质结构的电学与光学特性。
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