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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:12

题名/责任者:
微系统光学检测技术/(德)伏尔夫岗·奥斯腾主编 王伯雄等译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2014.08
ISBN及定价:
978-7-111-45837-1/CNY95.00
载体形态项:
16,442页:图;24cm
并列正题名:
Optical inspection of microsystems
丛编项:
国际制造业先进技术译丛
个人责任者:
(德) 奥斯腾 (Osten, Wolfgang) 主编
个人次要责任者:
王伯雄
学科主题:
微电子技术-光学测量
学科主题:
微电子技术
学科主题:
光学测量
中图法分类号:
TB96
相关题名附注:
封面英文题名:Optical inspection of microsystems
提要文摘附注:
本书包括光散射法、扫描探针显微技术、共焦显微技术、条纹投影技术、栅格和莫尔技术、干涉显微技术、激光多普勒测振技术等。
使用对象附注:
从事微纳制造、微系统检测的科技人员
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TB96/2 S2411305   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TB96/2 S2411306   总馆—自然书库(凤阳)     可借
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