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题名/责任者:

测试驱动的嵌入式C语言开发/(美) James W. Grenning著 尹哲等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2012

ISBN及定价:

978-7-111-36623-2/CNY49.00

载体形态项:

15, 256页;24cm

并列正题名:

Test-driven development for embedded C

丛编项:

华章专业开发者丛书

个人责任者:

格伦宁 著

个人次要责任者:

尹哲 译

学科主题:

C语言-程序设计

中图法分类号:

TP312C

出版发行附注:

由The Pragmatic Programmers, LLC授权出版

提要文摘附注:

本书介绍如何把测试驱动的开发方法应用于嵌入式C语言开发,第一部分介绍了两个开源的测试框架,通过测试驱动开发方法开发第一个模块;第二部分深入介绍了与系统中其他模块进行交互的代码的测试技术;第三部分介绍了设计与持续改进代码,如写出更好代码的一些重要原则,建立可测并灵活设计的高级技术,改进已有代码的实践方法一一重构技术,改进遗留代码,以及编写和维护测试的指导原则。

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