MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 光电材料与器件测试评估技术/乔建良著
- 出版发行项:
- 郑州:郑州大学出版社,2014.9
- ISBN及定价:
- 978-7-5645-1488-4/CNY19.50
- 载体形态项:
- 192页:图;26cm
- 个人责任者:
- 乔建良 著
- 学科主题:
- 自动测试系统-应用-光电器件
- 学科主题:
- 自动测试系统-应用-光电材料
- 中图法分类号:
- TN206
- 书目附注:
- 有书目 (第182-192页)
- 提要文摘附注:
- 本书根据W.E. Spicer提出的光电发射的“三步模型”, 分析了NEA GaN光电阴极从光电子的激发、体内到表面的输运、到穿越表面势垒逸出、到真空的全过程, 导出了光电子隧穿阴极表面势垒的透射系数。
- 使用对象附注:
- 本书适用于光电材料与器件测试评估技术人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TN206/3 | S2412618 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN206/3 | S2412619 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TN206/3 | S2412620 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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