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题名/责任者:

全面的功能验证:完整的工业流程/(美)威立(Bruce Wile), 高斯(John C. Goss), 罗斯纳(Wolfgang Roesner)著 沈海华, 乐翔译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2010

ISBN及定价:

978-7-111-29641-6/CNY98.00

载体形态项:

xxi, 487页:图;24cm

统一题名:

Comprehensive functional verification : the complete industry cycle

其它题名:

完整的工业流程

丛编项:

国际信息工程先进技术译丛

个人责任者:

(美) 威立 (Wile, Bruce) 著

个人责任者:

(美) 高斯 (Goss, John C.) 著

个人责任者:

(美) 罗斯纳 (Roesner, Wolfgang) 著

个人次要责任者:

沈海华 译

个人次要责任者:

乐翔 译

学科主题:

集成电路-芯片-设计

学科主题:

集成电路

学科主题:

芯片

中图法分类号:

TN402

出版发行附注:

本书中文简体字翻译版由机械工业出版社与Elsevier (Singapore) Pte Ltd.在中国大陆境内合作出版

相关题名附注:

英文题名原文取自封面

责任者附注:

责任者Wile规范汉译姓: 威立; 责任者Goss规范汉译姓: 高斯; 责任者Roesner规范汉译姓: 罗斯纳

书目附注:

有书目 (第482-487页)

提要文摘附注:

本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念, 以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元, 关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。

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