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文献类型：中文图书 浏览次数：17
- 题名/责任者:
- 集成电路测试原理/戴志坚，王厚军主编
- 出版发行项:
- 成都:电子科技大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5770-0163-0/CNY68.00
- 载体形态项:
- 204页:图;26cm
- 个人责任者:
- 戴志坚 (1968-) 主编
- 个人责任者:
- 王厚军 (1961-) 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试-高等教育-教材
- 中图法分类号:
- TN407
- 一般附注:
- 本科规划教材
- 提要文摘附注:
- 本书共六章，内容包括：集成电路测试技术概述，直流参数及模拟集成电路测试，数字集成电路测试，混合信号集成电路测试，ATE系统和DIB设计，测试应用开发。
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- 豆瓣简介：
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| 索书号 |
条码号 |
年卷期 |
校区—馆藏地 |
书刊状态 |
还书位置 |
| TN407/6 |
S3900602 |
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总馆—滁州校区自然书库
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可借 |
滁州校区自然书库 |
| TN407/6 |
S3900603 |
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总馆—滁州校区自然书库
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可借 |
滁州校区自然书库 |
| TN407/6 |
S3900604 |
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总馆—滁州校区自然书库
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可借 |
滁州校区自然书库 |
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