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Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

集成电路测试原理/戴志坚，王厚军主编

出版发行项:

成都:电子科技大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5770-0163-0/CNY68.00

载体形态项:

204页:图;26cm

个人责任者:

戴志坚 (1968-) 主编

个人责任者:

王厚军 (1961-) 主编

学科主题:

集成电路-电路测试-高等教育-教材

中图法分类号:

TN407

一般附注:

本科规划教材

提要文摘附注:

本书共六章，内容包括：集成电路测试技术概述，直流参数及模拟集成电路测试，数字集成电路测试，混合信号集成电路测试，ATE系统和DIB设计，测试应用开发。

豆瓣简介：