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文献类型：中文图书 浏览次数：21
- 题名/责任者:
- 可靠性试验/刘明治编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004
- ISBN及定价:
- 7-121-00210-8/CNY45.00
- 载体形态项:
- 332页;24cm
- 丛编项:
- 电子元器件质量与可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 编著 刘明治
- 学科主题:
- 可靠性
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-试验
- 学科主题:
- 电子元件
- 中图法分类号:
- TN606
- 提要文摘附注:
- 本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念基础上，介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序等。
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- 豆瓣简介：
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| 索书号 |
条码号 |
年卷期 |
校区—馆藏地 |
书刊状态 |
还书位置 |
| TN606/1 |
S319104 |
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总馆—凤阳校区密集书库（新馆）
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可借 |
凤阳校区密集书库（新馆） |
| TN606/1 |
S319105 |
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总馆—凤阳校区密集书库（新馆）
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可借 |
凤阳校区密集书库（新馆） |
| TN606/1 |
S319103 |
|
总馆—滁州校区密集书库二区
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可借 |
滁州校区密集书库二区 |
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