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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:14

题名/责任者:
光电材料表征技术/季振国等著
出版发行项:
杭州:浙江大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-308-21953-2/CNY78.00
载体形态项:
231页:图;24cm
并列正题名:
Characterization technologies for optoelectronic materials
个人责任者:
季振国
学科主题:
光电材料-研究
中图法分类号:
TN204
相关题名附注:
封面英文题名:Characterization technologies for optoelectronic materials
提要文摘附注:
本书主要介绍光电材料涉及的表征技术,并以大量实例辅助说明,介绍了作者近四十年来在硅单晶、ZnO、GaN、发光材料及材料表征技术等方面取得的一系列成果。全书分为成分分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度分析、光学性能测量、电学性能测量等篇章。书中涉及很多较新的表征技术,科学性和实用性很强。本书的特点是从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术,重在介绍各种技术在材料领域的应用,以用为主,避免把重点放在仪器设备的描述上。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态 还书位置
TN204/15 S3523672   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
TN204/15 S3523673   总馆—工业技术书库(龙湖)     可借 工业技术书库(龙湖)
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