MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:10
- 题名/责任者:
- 实用X射线光谱分析/高新华[等]编著
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2017.02
- ISBN及定价:
- 978-7-122-27959-0 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- 365页:图;24cm
- 个人责任者:
- 高新华 编著
- 学科主题:
- X射线荧光光谱法-荧光分析
- 中图法分类号:
- O657
- 提要文摘附注:
- 本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书共分十七章,系统介绍X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量,波长色散与能量色散光谱仪,基体效应、光谱背景和谱线重叠,样品制备,定性与半定量分析,实验校正法、数学校正法定量分析,薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、相关数据等,供读者参考使用。
- 使用对象附注:
- 本书适用于从事X射线光谱分析的专业人员及相关工程技术人员及相关专业师生、研究生及科研院所工程技术人员
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
O657/83 | S3173543 | - | 总馆—理学书库(龙湖) | 可借 |
O657/83 | S3173544 | - | 总馆—理学书库(龙湖) | 可借 |
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