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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:10

题名/责任者:
实用X射线光谱分析/高新华[等]编著
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2017.02
ISBN及定价:
978-7-122-27959-0 精装/CNY128.00
载体形态项:
365页:图;24cm
个人责任者:
高新华 编著
学科主题:
X射线荧光光谱法-荧光分析
中图法分类号:
O657
提要文摘附注:
本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书共分十七章,系统介绍X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量,波长色散与能量色散光谱仪,基体效应、光谱背景和谱线重叠,样品制备,定性与半定量分析,实验校正法、数学校正法定量分析,薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、相关数据等,供读者参考使用。
使用对象附注:
本书适用于从事X射线光谱分析的专业人员及相关工程技术人员及相关专业师生、研究生及科研院所工程技术人员
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
O657/83 S3173543  - 总馆—理学书库(龙湖)     可借
O657/83 S3173544  - 总馆—理学书库(龙湖)     可借
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