MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- Lattice可编程器件测试技术/吴丹，石坚，周红著
- 出版发行项:
- 西安:西北工业大学出版社,2015.01
- ISBN及定价:
- 978-7-5612-4253-7/30
- 学科主题:
- 电子计算机工业
- 中图法分类号:
- TP3
- 提要文摘附注:
- 本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。
- 使用对象附注:
- 可编程技术人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 |
| TP3/819 | S2501982 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TP3/819 | S2501983 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 | |
| TP3/819 | S2501984 | 总馆—自然书库（凤阳） | 可借 |
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