- 题名/责任者:
- 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著
- 出版发行项:
- 西安:西安交通大学出版社,2017
- ISBN及定价:
- 978-7-5605-9902-1/CNY39.80
- 载体形态项:
- 123页;24cm
- 丛编项:
- “十三五”学术文库系列
- 个人责任者:
- 谢小军, 1980-) 著
- 学科主题:
- 绝缘材料-介电性质-研究
- 中图法分类号:
- TM21
- 提要文摘附注:
- 本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。
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