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Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践/黄晓宗等编著

出版发行项:

哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5767-0545-4 精装/CNY108.00

载体形态项:

289页:图;24cm

并列正题名:

Radiation-hardening techniques and practices for analog/mixed-signal integrated circuits

个人责任者:

黄晓宗 编著

学科主题:

模拟集成电路-抗辐射性-研究

学科主题:

混合集成电路-抗辐射性-研究

中图法分类号:

TN431.1

中图法分类号:

TN45

一般附注:

国家出版基金项目 国家出版基金资助项目

一般附注:

材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

题名责任附注:

编著者还有：李儒章、付东兵、吴雪

提要文摘附注:

本书介绍了辐射对电子系统的损伤机理、加固技术和实践、辐射测试技术等研究内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应、半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性；第3~5章介绍了从工艺、版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术；第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究；第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。

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