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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：8

题名/责任者:
VLSI测试方法学和可测性设计/雷绍充, 邵志标, 梁峰著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2005
ISBN及定价:
7-121-00379-1/CNY29.80
载体形态项:
ix, 286页:图;26cm
个人责任者:
著 梁峰
个人责任者:
著 邵志标
个人责任者:
著 雷绍充
学科主题:
超大规模集成电路-测试技术
学科主题:
超大规模集成电路-测试-设计
中图法分类号:
TN47
书目附注:
有书目。
提要文摘附注:
本书内容包括数字逻辑基础、组合逻辑电路、触发器、时序逻辑电路、脉冲产生整形电路、半导体存储器、可编程逻辑器件等方面。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TN47/3 S307691   总馆—自然书库（凤阳）     可借
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