MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- X射线检测关键技术与应用研究/方正编著
- 出版发行项:
- 厦门:厦门大学出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-5615-8068-4/CNY68.00
- 载体形态项:
- 329页:图;24cm
- 丛编项:
- 厦门大学南强丛书.第七辑
- 个人责任者:
- 方正 (工程材料) 编著
- 学科主题:
- X射线-射线检验
- 中图法分类号:
- TG115.28
- 提要文摘附注:
- 本书分上、下两篇，上篇是X射线影像学，介绍了透射成像和层析成像的基本理论，以及作者在相关应用研究中解决关键问题的创新技术和方法；下篇为X射线光谱学，介绍了目前主流的光谱分析方法，并结合作者近期的研究阐述了X射线吸收光谱的理论方法、关键技术和应用实例。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 校区—馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TG115.28/40 | S3893243 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 | |
| TG115.28/40 | S3893244 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 | |
| TG115.28/40 | S3893245 | 总馆—滁州校区自然书库 | 可借 | 滁州校区自然书库 |
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