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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:12

题名/责任者:
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门/郑振环,李强编著
出版发行项:
北京:中国建材工业出版社,2016
ISBN及定价:
978-7-5160-1456-1/CNY45.80
载体形态项:
113页;24cm
个人责任者:
郑振环 编著
个人责任者:
李强 编著
学科主题:
多晶-X射线衍射-研究
中图法分类号:
O721
提要文摘附注:
本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
使用对象附注:
本书适用于材料、化学以及地质等领域学习者
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
O721/4 S3174519  - 总馆—自然书库(凤阳)     可借
O721/4 S3174520  - 总馆—自然书库(凤阳)     可借
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