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题名/责任者:

半导体器件建模与测试实验教程:基于华大九天器件建模与验证平台XModel/杜江锋, 石艳玲, 朱能勇编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2025.1

ISBN及定价:

978-7-121-49371-3/CNY58.00

载体形态项:

213页:图;26cm

其它题名:

基于华大九天器件建模与验证平台XModel

丛编项:

集成电路系列丛书.电子设计自动化

丛编项:

国产EDA系列教材

个人责任者:

杜江锋 编著

个人责任者:

石艳玲 编著

个人责任者:

朱能勇 编著

学科主题:

半导体器件-系统建模-高等学校-教材

中图法分类号:

TN303

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书基于国产EDA软件Empyrean Xmodel器件模型提取工具, 系统、全面地介绍硅基MOSFET和GaN HEMT的器件建模、测试分析和参数提取的设计和实验全流程。本书在简要介绍半导体器件的基本理论、测试结构和测试方案的基础上, 详细阐述MOSFET BSIM模型和参数提取实验、Xmodel集成的数据图形化显示系统、MOSFET器件直流模型和射频模型的提取实验、基于ASM-HEMT模型的GaN功率器件和射频器件的模型参数提取实验等, 以及半导体器件中常见的各种二阶效应 (如短沟道效应、版图邻近效应、工艺角模型和温度特性等) 非线性模型参数的提取和验证方法。

使用对象附注:

本书可作为高校半导体相关专业高年级本科生和研究生的教材, 也可供从事半导体器件研发的工程师参考

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