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题名/责任者:

数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维[等]著

出版发行项:

北京:科学出版社,2010.06

ISBN及定价:

978-7-03-027894-4 精装/CNY58.00

载体形态项:

xi,344页;25cm

其它题名:

测试压缩 测试功耗优化 测试调度

丛编项:

集成电路EDA技术丛书

个人责任者:

李晓维 著

个人责任者:

韩银和 著

个人责任者:

韩瑜 著

学科主题:

数字集成电路-测试技术

学科主题:

数字集成电路

学科主题:

测试技术

中图法分类号:

TN79

题名责任附注:

责任者还有:韩银和、韩瑜、李佳

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度，包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构，测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化，测试压缩与测试功耗协同优化方法，测试压缩与测试调度协同优化方法，并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。

使用对象附注:

集成电路设计和测试开发及应用科技人员，集成电路与半导体专业高等院校教师、研究生和高年级本科生

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