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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:26

题名/责任者:
材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉, 武高辉编著
版本说明:
第2版
出版发行项:
哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2007.08
ISBN及定价:
978-7-5603-1338-2/CNY26.80
载体形态项:
311页:图;26cm
并列正题名:
Analysis methods in materials science:X-ray diffraction and electron microscopy in materials science
其它题名:
材料X射线衍射与电子显微分析
个人责任者:
周玉 编著
个人责任者:
武高辉 编著
学科主题:
金属材料-射线衍射分析-高等学校-教材
学科主题:
金属材料-电子显微镜分析-高等学校-教材
中图法分类号:
TG115.23
中图法分类号:
TG115.21
一般附注:
高等学校经典畅销教材
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
书目附注:
有书目 (第311页)
提要文摘附注:
本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。具体内容包括:X射线的性质、衍射方向、衍射强度、X射线物相分析、多晶体结构、复型技术等。
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TG115.23/1 S2194227   总馆—自然书库(凤阳)     可借
TG115.23/1 S2194228   总馆—自然书库(凤阳)     可借
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